| 网页标题 | 紫外可见漫反射光谱UV-Vis计算带隙/禁带宽度的方法 |
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| 网页关键词 | 禁带宽度,半导体,微分,带隙,漫反**光,切线, |
| 网页描述 | 对于做半导体材料和光催化的同学来说，带隙是重要的参数，一般用紫外漫反**光谱来计算。今天铄思百检测小编，带来两种方法：切线法和Tauc plot法。切线法基本原理是存在Eg =1240/λg 的数量关系，其中λg单位为nm，Eg单位为eV，认为半导体的带边波长（λg）决定于禁带宽度Eg。因此，可以通过求取λg来得到Eg。具体**作：1.一般通过UV-Vis DRS测试可以得到样品在不同波长下的吸... |
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主要关键词出现频率：
| 禁带宽度 | 1次 |
| 半导体 | 1次 |
| 微分 | 1次 |
| 带隙 | 1次 |
| 漫反**光 | 1次 |
| 切线 | 1次 |
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