| 网页标题 | SEM测试线扫与面扫 |
|---|---|
| 网页关键词 | SEM,SEM EDS SPOT,SEM EDS mapping,点扫,线扫,面扫 |
| 网页描述 | 使电子束沿样品上指定的一条线扫描，就能得到这条线上感兴趣元素含量的变化曲线。线分析是一种定**分析，有二次电子或背散**电子像对照分析，能直观地获得元素在不同相或区域内的分布状态。 |
| 查询链接 | https://www.sousepad.com/h-nd-2736.html |
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主要关键词出现频率：
| SEM | 3次 |
| EDS | 2次 |
| SPOT | 1次 |
| mapping | 1次 |
| 点扫 | 1次 |
| 线扫 | 1次 |
| 面扫 | 1次 |
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